Лазерный 3D цветной сканирующий микроскоп Keyence VK-9700

 

В ЮНЦ РАН, ведущем научно-исследовательском центре региона, мы предлагаем передовые услуги 3D-микроскопии и лазерного профилирования. Наш центр оснащен лазерным сканирующим 3D-микроскопом Keyence VK-9700 инструментом, позволяющим проводить бесконтактный анализ рельефа и морфологии поверхности объектов с высокой точностью. Если вам необходим точный и достоверный анализ трехмерной поверхности материала, вы нашли надежного партнера в Ростове-на-Дону.

Технологическая база ЮНЦ РАН: Keyence VK-9700 для многомерного анализа рельефа

Система Keyence VK-9700 разработана для максимальной универсальности в области измерений геометрии и топографии. Она позволяет нам работать с самыми разнообразными образцами от сложных биологических тканей до высокоточных микроэлектронных компонентов. Основное преимущество микроскопа заключается в его способности получать цветные изображения с высоким разрешением, с возможностью оценки геометрических параметров (счет точек, линейные размеры, углы, площадь, шероховатость поверхности, объем частиц лежащих на ровной поверхности).

 


Ключевые преимущества оборудования:

Бесконтактное исследование

В отличие от традиционных методов, наш микроскоп не контактирует с образцом, что критически важно для хрупких, биологических или чувствительных материалов, исключая риск повреждения.

Высочайшая точность

Благодаря применению монохромного лазерного излучения с длиной волны, близкой к УФ, микроскоп обладает сверхвысоким разрешением по горизонтали до 100 нм, а точность послойного сканирования по вертикали может достигать 10 нм. Это позволяет визуализировать мельчайшие неровности, микротрещины и микроизменения.

Многофункциональность измерения

Встроенная возможность конфокальной съемки позволяет не только получить 3D-профиль поверхности, проанализировать его параметры и сформировать топографическую карту (2D-изображение рельефа), но и определить толщину прозрачных пленок/пластин (от 1,5 мкм).


 

Преимущество ЮНЦ РАН

Благодаря уникальной интеграции Keyence VK-9700 в нашу научную базу, наши специалисты могут не просто измерять параметры, а решать комплексные инженерные и научные задачи, требующие сочетания высокой точности и широкой методической экспертизы.

 

Применение 3D-микроскопии в ключевых отраслях

Материаловедение и Металлургия

Мы помогаем предприятиям проводить контроль качества на самых ранних стадиях. С помощью лазерного сканирования мы можем идентифицировать микротрещины, анализировать профиль износа поверхности (износ), измерять толщину защитных покрытий (антикоррозионные, керамические) и обнаруживать дефекты литья и обработки. Точное измерение геометрии поверхности критически важно для повышения надежности машиностроительных деталей.

 Электроника и Микроэлектроника

В условиях, где критичен контроль геометрии на субмикронном уровне, 3D-микроскоп незаменим. Мы применяем его для анализа качества печатных плат, измерения толщины и однородности покрытий на печатных платах, выявления локальных дефектов на поверхности тонких пленок и контроля качества паяльных соединений. Полученные данные позволяют гарантировать соответствие вашей продукции строгим промышленным стандартам.

 

Почему выбирают 3D-анализ в ЮНЦ РАН?

Выбирая центр коллективного пользования ЮНЦ РАН, вы получаете не только доступ к оборудованию Keyence VK-9700, но и научный опыт ведущего научного центра на Юге России. 

Прозрачность процесса

Мы даем вам больше, чем просто изображение. Мы предоставляем полный контроль над каждым параметром, позволяя масштабировать измерения под уникальные требования — будь то фундаментальная наука или высокоточный промышленный контроль.

Для обсуждения ваших задач, получения предварительной консультации по выбору методики и анализу образцов, свяжитесь с нами.

 

Контактное лицо: Назаренко Александр Владимирович

e-mail: nazarav@ssc-ras.ru

тел.: 8(863) 250 98 28 (118)


3D Лазерный Микроскоп в Ростове-на-Дону; Анализ морфологии поверхности; Топографический анализ в ЮНЦ РАН; 3D лазерный сканирующий микроскоп Keyence в Южном научном центре РАН