Современные методы получения тонких пленок GaAs1-x-yNxBiy: обзор
Девицкий О. В. Современные методы получения тонких пленок GaAs1-x-yNxBiy: обзор // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — 2025. — № 17. — С. 636-648. — DOI 10.26456/pcascnn/2025.17.636. — EDN KZGPTM.
Сотрудник
Количество авторов
1
Ссылка на публикацию в сети интернет
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001640993800001
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=84085105
https://journalrank.rcsi.science/ru/record-sources/details/17092/ - УБС 2
Год
2025