Атомно-силовой микроскоп “Ntegra Academia”

Диапазон сканирования X х Y х Z:    100 х 100 х 10 мкм
Минимальный шаг сканирования:    2 нм
Максимальный размер исследуемого образца X х Y х Z:    25 х 25 х 15 мм
Максимальный вес исследуемого образца    40 г
Диапазон выходного высокого напряжения:    от –150 до +150 В
Максимальная рабочая температура столика:    150 ºС

“Ntegra Academia” – это многофункциональная измерительная система, позволяющая проводить комплексные междисциплинарные исследования в области материаловедения, микро- и нанотехнологий, в микробиологии, а также при создании полимеров. Наряду с исследованием морфологии поверхности, “Ntegra Academia” позволяет изучать различные электрофизические и магнитные характеристики образцов с высоким пространственным разрешением. Режимы работы: контактная АСМ; полуконтактная АСМ; прыжковая АСМ; сканирующая емкостная микроскопия; микроскопия зонда Кельвина; магнитно-силовая микроскопия; электростатическая силовая микроскопия; зондовая литография.