Все публикации

Contact Problems for Two Stamps and a New Type of Crack Model; [О контактных задачах для двух штампов и модели трещин нового типа]

Бабешко В., Евдокимова О., Бабешко О., Зарецкая М., Евдокимов В. О КОНТАКТНЫХ ЗАДАЧАХ ДЛЯ ДВУХ ШТАМПОВ И МОДЕЛИ ТРЕЩИН НОВОГО ТИПА // Доклады Российской академии наук. Физика, технические науки. — 2023. — Т. 513, № 1. — С. 48-54. — DOI: 10.31857/S2686740023060019. — EDN: YCDLOT. ПЕРЕВОДНАЯ ВЕРСИЯ: Babeshko, V.A., Evdokimova, O.V., Babeshko, O.M. et al. Contact Problems for Two Stamps and a New Type of Crack Model. Dokl. Phys. 68, 410–415 (2023). https://doi.org/10.1134/S1028335823120017. Q4

Crystal Structure and Dielectric Properties of Heteroepitaxial BiFeO3 Multiferroic Films Grown on a Pt(001)/MgO(001) Substrate; [Кристаллическая структура и диэлектрические свойства гетероэпитаксиальных пленок мультиферроика BiFeO3, выращенных на подложке Pt(001)/MgO(001)]

Nazarenko A.V., Matyash Y.Y., Popov P.V., Pavlenko A.V., Stryukov D.V. Crystal Structure and Dielectric Properties of Heteroepitaxial BiFeO3 Multiferroic Films Grown on a Pt(001)/MgO(001) Substrate // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. — 2023.— Vol. 87, No 9.0.— P. 1326—1331. — DOI: 10.3103/S1062873823703240.

Crystal structure, nanostructure, and dielectric characteristics of 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3 films grown on a (001)SrTiO3(0.5% Nb) substrate [Кристаллическая структура, наноструктура и диэлектрические характеристики пленок 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3, выращенных на подложке (001)SrTiO3(0.5% Nb)]

Matyash Ya.Yu., Stryukov D.V., Pavlenko A.V., Ter-Oganessian N.V. Crystal structure, nanostructure, and dielectric characteristics of 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3 films grown on a (001)SrTiO3(0.5% Nb) substrate // Physics of the Solid State. — 2023. — Vol. 65, Iss. 10. — P. 1701-1706. [ПЕРЕВОД: Матяш Я., Стрюков Д., Павленко А., Тер-Оганесян Н. Кристаллическая структура, наноструктура и диэлектрические характеристики пленок 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3, выращенных на подложке (001)SrTiO3(0.5% Nb) // Физика твердого тела. — 2023. — Т. 65, № 10. — С. 1777-1782. — DOI: 10.61011/FTT.2023.10.56326.111. — EDN: CGFJJP].

Cu(II), Ni(II), Co(II), Zn(II), and Pd(II) Complexes with (4Z)-4-[(2-Furylmethylamino)methylene]-5-methyl-2-phenylpyrazol-3-one: Synthesis, Structures, and Properties; [Синтез, строение и свойства комплексов Cu(II), Ni(II), Co(II), Zn(II), Pd(II) с (4Z)-4-[(2-фурилметиламино)метилен]-5-метил-2-фенилпиразол-3-оном]

Vlasenko V.G., Burlov A.S., Milutka M.S., Koshchienko Y.V., Uraev A.I., Lazarenko V.A., Makarova N.I., Metelitsa A.V., Zubenko A.A., Garnovskii D.A. Cu(II), Ni(II), Co(II), Zn(II), and Pd(II) Complexes with (4Z)-4-[(2-Furylmethylamino)methylene]-5-methyl-2-phenylpyrazol-3-one: Synthesis, Structures, and Properties // RUSSIAN JOURNAL OF COORDINATION CHEMISTRY. — 2023.— Vol. 49, No. 3.— P. 148—157. — DOI: 10.1134/S1070328422700221.



Defects in GaInAsBi Epitaxial Films on Si(001) Substrates; [Дефекты в эпитаксиальных пленках GaInAsBi на подложках Si (001)]

Пащенко А.С., Девицкий О.В., Лунина М.Л. Дефекты в эпитаксиальных пленках GaInAsBi на подложках Si (001) // Физика и техника полупроводников. – 2023. – Т. 57, – №8. – С. 652-657. [ПЕРЕВОДНАЯ ВЕРСИЯ: Pashchenko A.S., Devitsky O.V., Lunina M.L. Defects in GaInAsBi epitaxial films on Si(001) substrates // Semiconductors. – 2023. – V.57, № 8. – P. 632–637]. —DOI: 10.21883/0000000000

Delamination Detection in a Multilayer Carbon Fiber Reinforced Plate Based on Acoustic Methods: Numerical and Experimental Study

Shevtsov S., Chebanenko V., Andzhikovich I., Snezhina N. Delamination Detection in a Multilayer Carbon Fiber Reinforced Plate Based on Acoustic Methods: Numerical and Experimental Study // Delamination Detection in a Multilayer Carbon Fiber Reinforced Plate Based on Acoustic Methods: Numerical and Experimental Study. Abstracts & Schedule / г. Surabaya, Indonesia, (03.10.2023 г.– 08.10.2023 г.). — nan: Southern Federal University, 2023.