Структура и дефекты тонких пленок GaInAsBi, выращенных на подложках Si и GaAs

Пащенко А., Девицкий О., Лунин Л. Структура и дефекты тонких пленок GaInAsBi, выращенных на подложках Si и GaAs // «Мокеровские чтения». 15-я Международная научно-практическая конференция по физике и технологии наногетероструктурной СВЧ-электроники: сборник трудов / г. Москва, (22.05.2024 г.–23.05.2024 г.). — Москва: НИЯУ МИФИ, 2024. — С. 113-114. — EDN: GJXMBO.