Исследование влияния материала контактов и толщины пленок на резистивное переключение в не требующих формовки нанокристаллических пленках ZNO для нейроморфных устройств на основе мемристорных структур

Томинов Р.В., Вакулов З.Е., Авилов В.И., Шиховцов И.А., Смирнов В.А. Исследование влияния материала контактов и толщины пленок на резистивное переключение в не требующих формовки нанокристаллических пленках ZNO для нейроморфных устройств на основе мемристорных структур // Наноиндустрия. - 2022. - № S8-2 (113). - С. 509-515.

Сотрудник
Количество авторов
5
Ссылка на публикацию в сети интернет
https://www.doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.8s.509.515
Год
2022
Томинов Р.В., Вакулов З.Е., Авилов В.И., Шиховцов И.А., Смирнов В.А. Исследование влияния материала контактов и толщины пленок на резистивное переключение в не требующих формовки нанокристаллических пленках ZNO для нейроморфных устройств на основе мемристорных структур // Наноиндустрия. - 2022. - № S8-2 (113). - С. 509-515.